| ジャーナル プロフィール | |||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
ジャーナル タイトル | IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING LetPub Score 5.4
51 ratings
Rate
Reputation 6.2 Influence 3.9 Speed 8.9 | ||||||||||||||||||||||||||||
| ジャーナルの略称 | IEEE T SEMICONDUCT M | ||||||||||||||||||||||||||||
| ISSN | 0894-6507 | ||||||||||||||||||||||||||||
| E-ISSN | 1558-2345 | ||||||||||||||||||||||||||||
| h-index | 59 | ||||||||||||||||||||||||||||
| CiteScore |
| ||||||||||||||||||||||||||||
| 自己引用率 (2024-2025) | 8.70%自己引用率トレンド | ||||||||||||||||||||||||||||
| 掲載範囲 |
| ||||||||||||||||||||||||||||
| 公式サイト | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=66 | ||||||||||||||||||||||||||||
| オンライン原稿提出 | http://mc.manuscriptcentral.com/tsm-ieee | ||||||||||||||||||||||||||||
| オープンアクセス | No | ||||||||||||||||||||||||||||
| 出版社 | Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. | ||||||||||||||||||||||||||||
| 主題分野 | 工学 | ||||||||||||||||||||||||||||
| 出版国/地域 | UNITED STATES | ||||||||||||||||||||||||||||
| 発行頻度 | 四半期刊行 | ||||||||||||||||||||||||||||
| 発行開始年 | 0 | ||||||||||||||||||||||||||||
| 年間記事数 | 72年間記事数トレンド | ||||||||||||||||||||||||||||
| ゴールド OA 割合 | 5.41% | ||||||||||||||||||||||||||||
| Web of Science 四分位 （ 2024-2025） | WOS Quartile: Q3
| ||||||||||||||||||||||||||||
| インデックス (SCI or SCIE) | Science Citation Index Science Citation Index Expanded | ||||||||||||||||||||||||||||
| PubMed Central (PMC) へのリンク | https://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0894-6507%5BISSN%5D | ||||||||||||||||||||||||||||
| 平均査読期間 * | 出版社からの許可を得たデータ: 著者からのデータ: About 6.0 month(s) | ||||||||||||||||||||||||||||
| 競争力 * | 著者からのデータ: Easy | ||||||||||||||||||||||||||||
| 参考になるリンク |
| ||||||||||||||||||||||||||||
| *すべてのレビュープロセスの指標、例えば受理率やレビューの速さは、ユーザーが提出した原稿に限定されています。そのため、これらの指標はジャーナルの正確な競争力や速さを反映していない可能性があります。 | |||||||||||||||||||||||||||||
| |
| 最初 前へ 1 次へ 最後 (ページ | |
| [IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING] のレビュー | レビューを書く |
| 著者: steven bin 分野: 工学 査読期間: 3.0 month(s) 結果: 改訂後に受け入れられました レビューを書く |
2026-02-28 14:21:20 レビューした 査読が遅すぎる。半年間も編集者を見ているうちに、最終的には採用されたが、影響力がますますなくなっているようだ。  (0) いいね！ | steven bin  |
| 著者: kdr 分野: 査読期間: 0.0 month(s) 結果: 拒否されました レビューを書く |
2024-10-21 02:59:48 レビューした 2024年5月20日 提出 2024年6月1日 レビュアーの評価待ち 2024年7月7日 AEの決定待ち 2024年7月9日 小規模な修正（2週間） 2024年7月21日 修正された原稿を提出 2024年7月22日 レビュアーの招待待ち 2024年8月2日 AEの決定待ち（レビュアーの評価待ちのステータスなし） 2024年8月6日 決定承認待ち 2024年8月7日 小規模な修正（テンプレートへの変更のみ） 2024年8月9日 修正された原稿を提出 2024年8月12日 レビュアーの選択待ち 2024年8月18日 受理 (0) いいね！ | kdr |
| 著者: kdr 分野: 査読期間: 0.0 month(s) 結果: 拒否されました レビューを書く |
2024-08-18 19:59:37 レビューした 2024年5月20日 提出 2024年6月1日 レビュアースコア待ち 2024年7月7日 AEの判断待ち 2024年7月9日 小さな修正（2週間） 2024年7月21日 修正された原稿提出 2024年7月22日 レビュアー招待待ち 2024年8月2日 AEの判断待ち（レビュアースコア待ちのステータスなし） 2024年8月6日 決定承認待ち 2024年8月7日 小さな修正（テンプレートの修正のみ） 2024年8月9日 修正された原稿提出 2024年8月12日 レビュアー選択待ち 2024年8月18日 受理 (0) いいね！ | kdr |
| 著者: wyw 分野: 工学 査読期間: 0.0 month(s) 結果: 保留中＆不明 レビューを書く |
2023-12-16 10:38:51 レビューした 投稿から承認までに大体どれくらいかかりましたか？査読のスピードは速いですか？私は半導体製造のスケジューリングを行っていますが、この分野は受け入れられましたか？中国人がこのトピックでほとんど投稿していないと気づきますが、これに影響はありますか？ (0) いいね！ | wyw |
| 著者: MZ@AHU 分野: 工学 査読期間: 5.0 month(s) 結果: 改訂後に受け入れられました レビューを書く |
2022-11-27 19:29:00 レビューした 2回の修正の後、その候補者は採用されました (0) いいね！ | MZ@AHU |
| 著者: 一直很乖 分野: コンピュータ科学 査読期間: 3.0 month(s) 結果: 改訂後に受け入れられました レビューを書く |
2016-08-26 14:34:41 レビューした 季刊であるが非常に速いです。15年11月に提出され、16年1月に改訂され、16年2月に再度提出され、半月、修正を加えて、2月20日に受け取りました。そしてすぐに発行されます...とてもスムーズな気分です (0) いいね！ | 一直很乖 |
| 著者: 匿名 分野: コンピュータ科学 査読期間: 0.0 month(s) 結果: レビューを書く |
2012-04-10 08:21:00 レビューした Transactionsシリーズでの半導体製造。インパクトファクターは高くないが、この分野でトップと見なすべきである。1年に4号刊行され、1号あたり10以上の記事が掲載される。投稿量は少なく、査読期間は長い。プロセスにはフルで8ヶ月かかった (0) いいね！ | 匿名 |
| 著者: 匿名 分野: 査読期間: 0.0 month(s) 結果: レビューを書く |
2011-08-20 23:23:00 レビューした ジャーナルホームページURL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=66 (0) いいね！ | 匿名 |
| 著者: 匿名 分野: 査読期間: 0.0 month(s) 結果: レビューを書く |
2010-07-26 14:30:00 レビューした IEEE CPMT協会は4つのジャーナルを持っています。http://www.cpmt.org/trans/index.html (0) いいね！ | 匿名 |
| 最初 前へ 1 次へ 最後 (ページ | |
Contact us